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MICRON
  • ISSN:0968-4328
  • 出版社:PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD
  • 学科目录:Microscopy
  • 影响因子:1.988
  • 所属类别:SCIE -Microscopy
Microscopy
  • ISSN:0022-0744
  • 出版社:OXFORD UNIV PRESS
  • 学科目录:Microscopy
  • 影响因子:1.743
  • 所属类别:SCIE -Microscopy
MICROSCOPY AND MICROANALYSIS
  • ISSN:1431-9276
  • 出版社:CAMBRIDGE UNIV PRESS
  • 学科目录:Microscopy
  • 影响因子:1.872
  • 所属类别:SCIE -Microscopy
SCANNING
  • ISSN:0161-0457
  • 出版社:WILEY-BLACKWELL
  • 学科目录:Microscopy
  • 影响因子:1.891
  • 所属类别:SCIE -Microscopy
  • ISSN:0304-3991
  • 出版社:ELSEVIER SCIENCE BV
  • 学科目录:Microscopy
  • 影响因子:2.436
  • 所属类别:SCIE -Microscopy
Acta Microscopica
  • ISSN:0798-4545
  • 出版社:COMITE INTERAMERICANO SOC MICROSCOPIA ELECTRONICA-CIASEM
  • 学科目录:Microscopy
  • 影响因子:0.062
  • 所属类别:SCIE -Microscopy
JOURNAL OF MICROSCOPY
  • ISSN:0022-2720
  • 出版社:WILEY-BLACKWELL
  • 学科目录:Microscopy
  • 影响因子:2.331
  • 所属类别:SCIE -Microscopy
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